1. Pantheon
  2. Produção Científica
  3. Propriedade Intelectual
  4. Patentes
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/11422/1612
Especie: Patente
Título : Teste de circuitos a capacitores chaveados usando seções passa-tudo
Depositante/Titular : Universidade Federal do Rio de Janeiro
Autor(es)/Inventor(es): Petraglia, Antônio
Petraglia, Mariane Rembold
Canive, Jorge Morales
Resumen: A presente inovação consiste de uma metodologia de teste de circuitos a capacitores chaveados implementados por conexão paralela de seções com funções de transferência recursivas do tipo passa-tudo, que por sua vez são realizadas por seções passa-tudo de primeira e segunda ordens conectadas em série. O teste é completamente alcançado pela medição das respostas de filtros do tipo notch de segunda ordem e filtros passa-baixas ou passa-altas de primeira ordem. Apesar de ser mais simples, e o circuito necessário para a realização do teste ser menor do que os de outros métodos de teste conhecidos, o procedimento de teste é capaz de detectar múltiplas falhas paramétricas e estimar com precisão o valor realmente fabricado em circuito integrado das razões de capacitâncias que determinam os coeficientes da função de transferência do circuito.
Materia: Circuitos elétricos
Capacitores
Materia CNPq: CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
Unidade de producción: Instituto Alberto Luiz Coimbra de Pós-Graduação e Pesquisa de Engenharia
Fecha de envío : 27-jul-2004
Fecha de publicación: 14-mar-2006
País de edición : Brasil
Idioma de publicación: por
Tipo de acceso : Acesso Aberto
Número de Patente : PI 0403071-0 A2
Aparece en las colecciones: Patentes

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