Teste de circuitos a capacitores chaveados usando seções passa-tudo

Petraglia, Mariane Rembold; Petraglia, Antônio; Canive, Jorge Morales

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Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor	Universidade Federal do Rio de Janeiro	pt_BR
dc.contributor.author	Petraglia, Antônio	-
dc.contributor.author	Petraglia, Mariane Rembold	-
dc.contributor.author	Canive, Jorge Morales	-
dc.date.accessioned	2017-03-20T13:34:00Z	-
dc.date.available	2023-12-21T03:02:51Z	-
dc.date.issued	2006-03-14	-
dc.date.submitted	2004-07-27	-
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11422/1612	-
dc.description	Em 11/09/2014: Anuidade de pedido de patente de invenção no prazo ordinário.	-
dc.language	por	pt_BR
dc.rights	Acesso Aberto	pt_BR
dc.subject	Circuitos elétricos	pt_BR
dc.subject	Capacitores	pt_BR
dc.title	Teste de circuitos a capacitores chaveados usando seções passa-tudo	pt_BR
dc.type	Patente	pt_BR
dc.description.status	Depositada	pt_BR
dc.description.resumo	A presente inovação consiste de uma metodologia de teste de circuitos a capacitores chaveados implementados por conexão paralela de seções com funções de transferência recursivas do tipo passa-tudo, que por sua vez são realizadas por seções passa-tudo de primeira e segunda ordens conectadas em série. O teste é completamente alcançado pela medição das respostas de filtros do tipo notch de segunda ordem e filtros passa-baixas ou passa-altas de primeira ordem. Apesar de ser mais simples, e o circuito necessário para a realização do teste ser menor do que os de outros métodos de teste conhecidos, o procedimento de teste é capaz de detectar múltiplas falhas paramétricas e estimar com precisão o valor realmente fabricado em circuito integrado das razões de capacitâncias que determinam os coeficientes da função de transferência do circuito.	pt_BR
dc.publisher.country	Brasil	pt_BR
dc.publisher.department	Instituto Alberto Luiz Coimbra de Pós-Graduação e Pesquisa de Engenharia	pt_BR
dc.subject.cnpq	CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA	pt_BR
dc.identifier.patentno	PI 0403071-0 A2	pt_BR
dc.embargo.terms	aberto	pt_BR
Appears in Collections:	Patentes

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