1. Pantheon
  2. Trabalhos Acadêmicos e Técnicos
  3. Trabalhos de Conclusão de Curso de Graduação
  4. Física Médica
Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11422/3939
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dc.contributor.advisorGonçalves, Odair Dias-
dc.contributor.authorSouza, Caroline Castro-
dc.date.accessioned2018-05-09T17:55:37Z-
dc.date.available2023-12-21T03:05:35Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11422/3939-
dc.languageporpt_BR
dc.publisherUniversidade Federal do Rio de Janeiropt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subjectEspectroscopiapt_BR
dc.subjectFluorescênciapt_BR
dc.subjectImplantes dentáriospt_BR
dc.subjectCaracterização químicapt_BR
dc.titleEspectroscopia em implantodontia: revisão bibliográfica e análise de amostraspt_BR
dc.typeTrabalho de conclusão de graduaçãopt_BR
dc.contributor.referee1Gonçalves, Odair Dias-
dc.contributor.referee2Luna, Hugo Milward Riani de-
dc.contributor.referee3Coutinho, Lúcia Helena-
dc.contributor.referee4Groisman, Sonia-
dc.description.resumoCom o envelhecimento da população, há aumento no número de edêntulos. Uma das formas de correção de problemas de perda de dentes é através da utilização de implantes dentários. Por sua alta biocompatibilidade, o titânio é o material mais utilizado como substrato dos implantes: uma camada de óxido de titânio formada quando o metal é exposto na atmosfera é responsável pelo aumento na osseointegração, ampliando as chances de sucesso do procedimento. Outra técnica possível para melhorar e acelerar a osseointegração são tratamentos de superfície dos implantes, contudo esse método não é isento de riscos, uma vez que pode inserir contaminantes nas peças, prejudicando assim o resultado global do procedimento. Para entender o efeito do implante no tecido biológico, são necessárias técnicas de caracterização de superfície. A partir de uma revisão bibliográfica foi possível notar que, apesar de haver concordância sobre a relação entre parâmetros de superfície e osseointegração, não existe um consenso entre os efeitos dos contaminantes na resposta biológica ao implante (dos cinco trabalhos investigados no quesito de contaminantes, dois não informam os efeitos destes, um conclui que os contaminantes não causam problemas, um afirma que incorporações causam prejuízo ao sucesso do implante, sem deixar claro como, e apenas um dos autores associa a presença de elementos contaminantes a efeitos específicos na biocompatibilidade) e não há uniformidade nos estudos de caracterização (não existe padronização no manuseio ou na região analisada do implante, nem sequer nas técnicas utilizadas, mesmo quando autores utilizam a mesma técnica, pode haver variação dos parâmetros). Em função destas inconsistências, fica clara a necessidade de se fazer uma intercomparação dos componentes encontrados com técnicas diferentes e tentar se estabelecer um protocolo de medidas em cada um dos equipamentos mais utilizados. O objetivo deste trabalho é investigar essas questões com base em duas vertentes: uma revisão detalhada da literatura e medidas aprofundadas para testar as técnicas de EDS, XPS e XRD. Para tanto, utilizamos dois implantes descartados, buscando analisar as composições obtidas em diferentes regiões da superfície do implante, no caso do EDS, e em diferentes profundidades no XPS. Os resultados sugerem que a técnica de EDS é mais indicada para a verificação dos componentes de superfície em maior concentração, o XPS mostrou-se adequado para análise de revestimentos e de contaminantes de superfície, enquanto a técnica de XRD é indicada para análise do substrato do implante. Existem indícios de que o silício é um contaminante de superfície. Conclui-se que, devido à conveniência entre os equipamentos e suas aplicações, existe a necessidade de estabelecer testes e protocolos de análises específicos visando garantir a comparação entre os estudos.pt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.departmentInstituto de Físicapt_BR
dc.publisher.initialsUFRJpt_BR
dc.subject.cnpqCNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DOS FLUIDOS, FISICA DE PLASMAS E DESCARGAS ELETRICASpt_BR
dc.embargo.termsabertopt_BR
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