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Type: Trabalho de conclusão de graduação
Title: Medição das oscilações posturais utilizando sensor optoeletrônico de profundidade
Other Titles: Measurement of postural sway using an optoelectronic depth sensor
Author(s)/Inventor(s): Gonzalez, Diego Ramon Gonçalves
Advisor: Tavares, Frederico Caetano Jandre de Assis
Co-advisor: Silva, Luis Aureliano Imbiriba
Abstract: Sistemas de captura de movimento podem ser usados para medir as oscilações posturais, utilizando informações cinemáticas dos segmentos do corpo para registrar o deslocamento do centro de massa (CM). Estes sistemas, porém, possuem alto custo, ocupam grandes espaços e necessitam do uso de marcadores corporais, o que pode ser indesejado em algumas aplicações. O objetivo deste trabalho é avaliar o Microsoft Kinect v2, um dispositivo optoeletrônico portátil, capaz de detectar movimentos e que não necessita de marcadores na pele, como instrumento para medir oscilações posturais pelo deslocamento do CM. A posição do CM de três indivíduos foi registrada nas direções anterior-posterior (AP) e medial-lateral (ML) ao realizarem três tarefas diferentes, com duração de 60 segundos cada: permanecer de pé com olhos abertos (OA), com os olhos fechados (OF) ou realizando oscilações voluntárias nos tornozelos (OV). O Kinect v2 foi utilizado para registrar o deslocamento do CM e as medidas foram comparadas com um padrão de referência, estimado a partir do deslocamento do centro de pressão, através do coeficiente de correlação de Pearson r. Nos testes OA e OF, a correlação média foi muito alta nos eixos AP (r = 0,97±0,02 e r = 0,97±0,01, respectivamente) e ML (r = 0,94±0,02 e r = 0,95±0,02, respectivamente). No teste OV a correlação média foi muito alta no eixo AP (r = 0,99±0,00) e alta no eixo ML (r = 0,79±0,08). Estes resultados sugerem que o Kinect v2 possa ser utilizado para medir oscilações posturais.
Keywords: Oscilações Posturais
Microsoft Kinect v2
Centro de Massa
Centro de Pressão
Subject CNPq: CNPQ::ENGENHARIAS
Production unit: Escola Politécnica
Publisher: Universidade Federal do Rio de Janeiro
Issue Date: May-2016
Publisher country: Brasil
Language: por
Right access: Acesso Aberto
Appears in Collections:Engenharia de Controle e Automação

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