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dc.contributor.advisorAredes, Maurício-
dc.contributor.authorBrasil, Thiago Americano do-
dc.date.accessioned2019-04-05T13:22:39Z-
dc.date.available2019-04-07T03:00:18Z-
dc.date.issued2010-11-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11422/7085-
dc.languageporpt_BR
dc.publisherUniversidade Federal do Rio de Janeiropt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subjectEngenharia elétricapt_BR
dc.subjectDispositivos semicondutores de potênciapt_BR
dc.titleImplementação e construção de uma bancada para testes térmicos de dispositivos semicondutores de potênciapt_BR
dc.typeTrabalho de conclusão de graduaçãopt_BR
dc.contributor.referee1Andrade Junio, Rubens de-
dc.contributor.referee2Reis, Mauro Sandro dos-
dc.description.resumoDispositivos semicondutores de potência são largamente...pt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.departmentEscola Politécnicapt_BR
dc.publisher.initialsUFRJpt_BR
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICApt_BR
dc.embargo.termsabertopt_BR
Appears in Collections:Engenharia Elétrica

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