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dc.contributor.advisorVillas-Boas, Sergio Barbosa-
dc.contributor.authorBoechat, Vitor Sepulveda-
dc.date.accessioned2019-04-26T18:47:46Z-
dc.date.available2023-12-21T03:04:56Z-
dc.date.issued2010-01-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11422/7510-
dc.languageporpt_BR
dc.publisherUniversidade Federal do Rio de Janeiropt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subjectZigBeept_BR
dc.subjectModBuspt_BR
dc.titleRedes ZigBee e programas java aplicados à padronização e melhoria da qualidade dos testes de automação em gasodutospt_BR
dc.typeTrabalho de conclusão de graduaçãopt_BR
dc.contributor.referee1Pedroza, Aloysio de Castro Pinto-
dc.contributor.referee2Sousa, Antônio Cláudio Gómez de-
dc.description.resumoO processo de Teste de Aceitação de Fábrica (TAF) constitui-se como parte fundamental no ciclo de vida de um determinado projeto. Com o objetivo de alinhar e solucionar algumas divergências contratuais entre o fornecedor e o cliente, na compra de um dado equipamento, este procedimento pode causar grande impacto no cronograma do empreendimento.O sistema proposto por esse projeto final constitui-se em viabilizar uma execução do Teste de Aceitação de Fábrica em malhas de gasodutos de um modo automático reduzindo as chances de desconformidades, padronizando o procedimento de teste e aumentando a qualidade e conseqüentemente a segurança da instalação.O automatismo do sistema foi alcançado utilizando um conjunto de tecnologias para poder simular desde a entrada física no campo até a sua respectiva variável supervisionada em um determinado centro de controle. Para simular a entrada física foi desenvolvido um sistema wireless baseado no protocolo ZigBee; Para simular um sistema supervisório e controlar as entradas físicas foi desenvolvido um programa em Java; Dessa forma é possível aplicar a um dado equipamento uma ampla gama de testes em um intervalo de tempo relativamente menorpt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.departmentEscola Politécnicapt_BR
dc.publisher.initialsUFRJpt_BR
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIASpt_BR
dc.embargo.termsabertopt_BR
Appears in Collections:Engenharia Eletrônica e de Computação

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