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http://hdl.handle.net/11422/1126
Type: | Patente |
Title: | Processo e equipamento para determinação da suscetibilidade à formação de defeitos causados pelo hidrogênio em produtos metálicos esmaltados |
Depositor/Holder: | Universidade Federal do Rio de Janeiro Companhia Siderúrgica Paulista |
Author(s)/Inventor(s): | Miranda, Paulo Emilio Valadão de Santos, Dilson Silva dos |
Abstract: | Patente de invenção "processo e equipamento para determinação da suscetibilidade à formação de defeitos causados pelo hidrogênio em produtos metálicos esmaltados". A presente invenção é composta pelo método para qualificação de aço para esmaltagem vítrea e pelo equipamento utilizado para determinação do coeficiente de difusão do hidrogênio em aço no estado sólido. O método consiste em qualificar metalograficamente a chapa de aço e medir o coeficiente de difusão do hidrogênio em chapa nua (sem esmalte). O equipamento consiste de uma célula eletroquímica (1) de dois compartimentos (A e B), de parede dupla (2) estabilizadora da temperatura, cuja parede divisória é obtida com o corpo de prova (3) que impede contato entre a solução de hidrogenação de (A) e a solução básica de B; a instrumentação da célula (1) é composta de uma fonte geradora de sinal eletrônico (8) (potenciostato-galvanostato) incluída num conjunto (9) que incorpora um módulo de controle e amplificação de sinal para temperatura (10), tensão (11) e corrente (12), e de um computador (6) que fornece um gráfico E=f(t), determina o coeficiente de difusão e monitora o processo do ensaio. |
Keywords: | Hidrogênio Produtos metálicos esmaltados |
Subject CNPq: | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA::METALURGIA DE TRANSFORMACAO |
Production unit: | Instituto Alberto Luiz Coimbra de Pós-Graduação e Pesquisa de Engenharia |
Submitted Date: | 29-May-1987 |
Issue Date: | 20-Dec-1988 |
Accepted Date: | 26-Jan-1993 |
Publisher country: | Brasil |
Language: | por |
Right access: | Acesso Aberto |
Patent number: | PI 8702768-2 B1 |
Appears in Collections: | Patentes |
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