Use este identificador para citar ou linkar para este item: http://hdl.handle.net/11422/2659
Tipo: Relatório
Título: Reserva de mercado: um mal entendido caso político-tecnológico de "sucesso" democrático e "fracasso" autoritário
Autor(es)/Inventor(es): Marques, Ivan da Costa
Resumo: A oferta ao mercado de produtos tecnicamente defasados com preços altos e a pressão norteamericana são explicações insatisfatórias para que a reserva de mercado da informática praticada no Brasil nos anos 70 e 80 seja hoje uma experiência ainda mais intensamente rejeitada do que considerada fracassada. Este artigo oferece uma nova explicação para o fracasso e a rejeição, baseada em três fatores sociotécnicos específicos: o caráter da comunidade de profissionais brasileiros de informática, o advento dos microcomputadores, e a intervenção do SNI (a polícia política da ditadura). O artigo procura desfazer a opinião corrente que não problematiza os vínculos entre a reserva de mercado e o caráter autoritário do regime militar. A situação requer explicações mais complexas, e uma divisão do período em duas fases. Surpreendentemente, a primeira fase da reserva do mercado dos computadores no Brasil mostra uma afinidade muitas vezes negada entre as formas democráticas e a possibilidade de sucesso de políticas industriais para o desenvolvimento de ciências e tecnologias nos países em desenvolvimento.
Palavras-chave: Desenvolvimento tecnológico
Informática
Política industrial
Market reserve
Technological development
Industrial policy
Assunto CNPq: CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::CIENCIA DA COMPUTACAO
Departamento: Instituto Tércio Pacitti de Aplicações e Pesquisas Computacionais
In: Relatório Técnico NCE
Número: 2499
Data de publicação: 31-Dez-1999
País de publicação: Brasil
Idioma da publicação: por
Tipo de acesso: Acesso Aberto
Citação: MARQUES, I. C. Reserva de mercado: um mal entendido caso político-tecnológico de "sucesso" democrático e "fracasso" autoritário. Rio de Janeiro: NCE, UFRJ, 1999. 27 p. (Relatório Técnico, 24/99)
URI: http://hdl.handle.net/11422/2659
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