Estimação de razões de capacitâncias usando filtros estruturalmente passa-tudo a capacitores chaveados

Campos, Gustavo dos Santos de

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11422/7727

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DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	Petraglia, Antonio	-
dc.contributor.author	Campos, Gustavo dos Santos de	-
dc.date.accessioned	2019-05-03T14:10:39Z	-
dc.date.available	2023-12-21T03:00:35Z	-
dc.date.issued	2010-08	-
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11422/7727	-
dc.language	por	pt_BR
dc.publisher	Universidade Federal do Rio de Janeiro	pt_BR
dc.rights	Acesso Aberto	pt_BR
dc.subject	Microeletrônica	pt_BR
dc.subject	Circuitos integrados	pt_BR
dc.title	Estimação de razões de capacitâncias usando filtros estruturalmente passa-tudo a capacitores chaveados	pt_BR
dc.type	Trabalho de conclusão de graduação	pt_BR
dc.contributor.advisorCo1	Soares, Carlos Fernando Teodósio	-
dc.contributor.referee1	Gomes, Jose Gabriel Rodriguez Carneiro	-
dc.contributor.referee2	Baruqui, Fernando A. P.	-
dc.description.resumo	Uma importante classe de circuitos eletrônicos realizados em circuitos integrados (CIs) para desempenhar funções fundamentais em instrumentação - filtros, conversores analógico-digital e digital-analógico – requer razões de capacitâncias com elevada precisão. Tipicamente, os erros devem ser menores que 1%. Portanto, além da investigação de métodos para minimizar tais erros, há também interesse em disponibilizar um método de verificação da precisão obtida após a fabricação do CI. Neste trabalho, um procedimento preciso de medida de razões de capacitâncias está sendo desenvolvido, com a utilização de filtros a capacitores chaveados estruturalmente passa-tudo de segunda ordem. A técnica é baseada no fato de que a resposta em freqüência da soma de dois desses filtros produz zeros de transmissão em freqüências pré-determinadas, que dependem diretamente da razão entre duas capacitâncias [2], [3]. O projeto consistirá, primeiramente, na análise teórica da estrutura de medidas e, posteriormente, no projeto dos componentes do filtro – chaves analógicas e amplificadores. No desenvolvimento das chaves analógicas serão considerados efeitos típicos como a injeção de carga e o clock feedthrough. Já nos amplificadores, o projeto levará em consideração o tempo de estabilização e a carga total vista pelo amplificador. O projeto seguirá com o teste individual dos componentes e com o teste da estrutura de medidas. Após a comparação entre os valores simulados e teóricos, serão desenvolvidos os Layouts para a fabricação do circuito integrado. A partir das diferenças entre as freqüências esperadas e medidas no CI, serão obtidos os erros de realização das razões. A principal vantagem desta técnica está relacionada com a propriedade dos filtros estruturalmente passa-tudo produzirem zeros bem definidos mesmo na ocorrência de variações no processo de fabricação.	pt_BR
dc.publisher.country	Brasil	pt_BR
dc.publisher.department	Escola Politécnica	pt_BR
dc.publisher.initials	UFRJ	pt_BR
dc.subject.cnpq	CNPQ::ENGENHARIAS	pt_BR
dc.embargo.terms	aberto	pt_BR
Appears in Collections:	Engenharia Eletrônica e de Computação

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