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Type: Patente
Title: Teste de circuitos a capacitores chaveados usando seções passa-tudo
Depositor/Holder: Universidade Federal do Rio de Janeiro
Author(s)/Inventor(s): Petraglia, Antônio
Petraglia, Mariane Rembold
Canive, Jorge Morales
Abstract: A presente inovação consiste de uma metodologia de teste de circuitos a capacitores chaveados implementados por conexão paralela de seções com funções de transferência recursivas do tipo passa-tudo, que por sua vez são realizadas por seções passa-tudo de primeira e segunda ordens conectadas em série. O teste é completamente alcançado pela medição das respostas de filtros do tipo notch de segunda ordem e filtros passa-baixas ou passa-altas de primeira ordem. Apesar de ser mais simples, e o circuito necessário para a realização do teste ser menor do que os de outros métodos de teste conhecidos, o procedimento de teste é capaz de detectar múltiplas falhas paramétricas e estimar com precisão o valor realmente fabricado em circuito integrado das razões de capacitâncias que determinam os coeficientes da função de transferência do circuito.
Keywords: Circuitos elétricos
Capacitores
Subject CNPq: CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
Production unit: Instituto Alberto Luiz Coimbra de Pós-Graduação e Pesquisa de Engenharia
Submitted Date: 27-Jul-2004
Issue Date: 14-Mar-2006
Publisher country: Brasil
Language: por
Right access: Acesso Aberto
Patent number: PI 0403071-0 A2
Appears in Collections:Patentes

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