Teste de circuitos a capacitores chaveados usando seções passa-tudo

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			http://hdl.handle.net/11422/1612

Type:	Patente
Title:	Teste de circuitos a capacitores chaveados usando seções passa-tudo
Depositor/Holder:	Universidade Federal do Rio de Janeiro
Author(s)/Inventor(s):	Petraglia, Antônio Petraglia, Mariane Rembold Canive, Jorge Morales
Abstract:	A presente inovação consiste de uma metodologia de teste de circuitos a capacitores chaveados implementados por conexão paralela de seções com funções de transferência recursivas do tipo passa-tudo, que por sua vez são realizadas por seções passa-tudo de primeira e segunda ordens conectadas em série. O teste é completamente alcançado pela medição das respostas de filtros do tipo notch de segunda ordem e filtros passa-baixas ou passa-altas de primeira ordem. Apesar de ser mais simples, e o circuito necessário para a realização do teste ser menor do que os de outros métodos de teste conhecidos, o procedimento de teste é capaz de detectar múltiplas falhas paramétricas e estimar com precisão o valor realmente fabricado em circuito integrado das razões de capacitâncias que determinam os coeficientes da função de transferência do circuito.
Keywords:	Circuitos elétricos Capacitores
Subject CNPq:	CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
Production unit:	Instituto Alberto Luiz Coimbra de Pós-Graduação e Pesquisa de Engenharia
Submitted Date:	27-Jul-2004
Issue Date:	14-Mar-2006
Publisher country:	Brasil
Language:	por
Right access:	Acesso Aberto
Patent number:	PI 0403071-0 A2
Appears in Collections:	Patentes

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