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http://hdl.handle.net/11422/1612
Tipo: | Patente |
Título: | Teste de circuitos a capacitores chaveados usando seções passa-tudo |
Depositante/Titular: | Universidade Federal do Rio de Janeiro |
Autor(es)/Inventor(es): | Petraglia, Antônio Petraglia, Mariane Rembold Canive, Jorge Morales |
Resumo: | A presente inovação consiste de uma metodologia de teste de circuitos a capacitores chaveados implementados por conexão paralela de seções com funções de transferência recursivas do tipo passa-tudo, que por sua vez são realizadas por seções passa-tudo de primeira e segunda ordens conectadas em série. O teste é completamente alcançado pela medição das respostas de filtros do tipo notch de segunda ordem e filtros passa-baixas ou passa-altas de primeira ordem. Apesar de ser mais simples, e o circuito necessário para a realização do teste ser menor do que os de outros métodos de teste conhecidos, o procedimento de teste é capaz de detectar múltiplas falhas paramétricas e estimar com precisão o valor realmente fabricado em circuito integrado das razões de capacitâncias que determinam os coeficientes da função de transferência do circuito. |
Palavras-chave: | Circuitos elétricos Capacitores |
Assunto CNPq: | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA |
Unidade produtora: | Instituto Alberto Luiz Coimbra de Pós-Graduação e Pesquisa de Engenharia |
Data de depósito: | 27-Jul-2004 |
Data de publicação: | 14-Mar-2006 |
País de publicação: | Brasil |
Idioma da publicação: | por |
Tipo de acesso: | Acesso Aberto |
Número de Patente: | PI 0403071-0 A2 |
Aparece nas coleções: | Patentes |
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