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http://hdl.handle.net/11422/17859
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.advisor | Lopes, Ricardo Tadeu | - |
dc.contributor.author | Romberg Junior, Hugo da Costa | - |
dc.date.accessioned | 2022-07-25T18:18:59Z | - |
dc.date.available | 2023-12-21T03:05:22Z | - |
dc.date.issued | 2019-07 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11422/17859 | - |
dc.language | por | pt_BR |
dc.publisher | Universidade Federal do Rio de Janeiro | pt_BR |
dc.rights | Acesso Aberto | pt_BR |
dc.subject | raios X | pt_BR |
dc.subject | espectro | pt_BR |
dc.subject | espectrometria | pt_BR |
dc.subject | microCT | pt_BR |
dc.subject | microtomografia | pt_BR |
dc.title | Espectrometria de raios X de um sistema de microtomografia por transmissão | pt_BR |
dc.title.alternative | X-ray spectrometry from a transmission microCT system | pt_BR |
dc.type | Trabalho de conclusão de graduação | pt_BR |
dc.contributor.advisorLattes | http://lattes.cnpq.br/8246131317396176 | pt_BR |
dc.contributor.authorLattes | http://lattes.cnpq.br/5580573122795254 | pt_BR |
dc.contributor.referee1 | Lima, Alan Miranda Monteiro de | - |
dc.contributor.referee2 | Machado, Alessandra Silveira | - |
dc.description.resumo | A produção de raios X é de fundamental importância em diversas aplicações, entre essas aplicações está a técnica de microtomografia. A microtomografia computadorizada (microCT) é essencial para a condução de estudos em colaboração com diferentes áreas como industrial, odontológica, arqueológica e biológica/médica. Para melhor entender os espectros gerados por um tubo de raios X que compõe um sistema de microtomografia, foram obtidos os espectros de um tubo de raios X de 300 kV que faz parte do tomógrafo v|tome|x m fabricado pela General Eletric. Espectros não filtrados foram levantados para voltagens de 20 a 80 kV, e espectros filtrados com voltagens de 40 a 120 kV. Como resultado, os valores da energia média de cada um dos feixes de raios X filtrados e não filtrados de 40 a 120 kV foram obtidos. Esses valores, assim como os valores da atenuação que cada filtro gerou nos espectros de 40 a 70 kV, foram calculados baseados nas informações contidas nos espectros. Para compor os filtros foram usados filtros físicos metálicos de alumínio e cobre. Todos espectros foram obtidos usando um detector semicondutor, modelo XR-100CdTe, fabricado pela Amptek. | pt_BR |
dc.publisher.country | Brasil | pt_BR |
dc.publisher.department | Escola Politécnica | pt_BR |
dc.publisher.initials | UFRJ | pt_BR |
dc.subject.cnpq | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA NUCLEAR | pt_BR |
dc.embargo.terms | aberto | pt_BR |
Appears in Collections: | Engenharia Nuclear |
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