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dc.contributor.advisorLopes, Ricardo Tadeu-
dc.contributor.authorRomberg Junior, Hugo da Costa-
dc.date.accessioned2022-07-25T18:18:59Z-
dc.date.available2023-12-21T03:05:22Z-
dc.date.issued2019-07-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11422/17859-
dc.languageporpt_BR
dc.publisherUniversidade Federal do Rio de Janeiropt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subjectraios Xpt_BR
dc.subjectespectropt_BR
dc.subjectespectrometriapt_BR
dc.subjectmicroCTpt_BR
dc.subjectmicrotomografiapt_BR
dc.titleEspectrometria de raios X de um sistema de microtomografia por transmissãopt_BR
dc.title.alternativeX-ray spectrometry from a transmission microCT systempt_BR
dc.typeTrabalho de conclusão de graduaçãopt_BR
dc.contributor.advisorLatteshttp://lattes.cnpq.br/8246131317396176pt_BR
dc.contributor.authorLatteshttp://lattes.cnpq.br/5580573122795254pt_BR
dc.contributor.referee1Lima, Alan Miranda Monteiro de-
dc.contributor.referee2Machado, Alessandra Silveira-
dc.description.resumoA produção de raios X é de fundamental importância em diversas aplicações, entre essas aplicações está a técnica de microtomografia. A microtomografia computadorizada (microCT) é essencial para a condução de estudos em colaboração com diferentes áreas como industrial, odontológica, arqueológica e biológica/médica. Para melhor entender os espectros gerados por um tubo de raios X que compõe um sistema de microtomografia, foram obtidos os espectros de um tubo de raios X de 300 kV que faz parte do tomógrafo v|tome|x m fabricado pela General Eletric. Espectros não filtrados foram levantados para voltagens de 20 a 80 kV, e espectros filtrados com voltagens de 40 a 120 kV. Como resultado, os valores da energia média de cada um dos feixes de raios X filtrados e não filtrados de 40 a 120 kV foram obtidos. Esses valores, assim como os valores da atenuação que cada filtro gerou nos espectros de 40 a 70 kV, foram calculados baseados nas informações contidas nos espectros. Para compor os filtros foram usados filtros físicos metálicos de alumínio e cobre. Todos espectros foram obtidos usando um detector semicondutor, modelo XR-100CdTe, fabricado pela Amptek.pt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.departmentEscola Politécnicapt_BR
dc.publisher.initialsUFRJpt_BR
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA NUCLEARpt_BR
dc.embargo.termsabertopt_BR
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