Estudo espectroscópico de polímeros semicondutores para aplicação em eletrônica molecular

Correa, Roger de Souza

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DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	Pereira, Maria Luiza Rocco Duarte	-
dc.contributor.author	Correa, Roger de Souza	-
dc.date.accessioned	2018-11-15T22:01:41Z	-
dc.date.available	2023-12-21T03:03:23Z	-
dc.date.issued	2017-08-11	-
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11422/5765	-
dc.language	por	pt_BR
dc.publisher	Universidade Federal do Rio de Janeiro	pt_BR
dc.rights	Acesso Aberto	pt_BR
dc.subject	Polímeros semicondutores	pt_BR
dc.subject	Espectroscopia	pt_BR
dc.subject	Eletrônica molecular	pt_BR
dc.title	Estudo espectroscópico de polímeros semicondutores para aplicação em eletrônica molecular	pt_BR
dc.type	Trabalho de conclusão de graduação	pt_BR
dc.contributor.advisorLattes	http://lattes.cnpq.br/4515687356330538	pt_BR
dc.contributor.authorLattes	http://lattes.cnpq.br/8838508134339122	pt_BR
dc.contributor.referee1	Poneti, Giordano	-
dc.contributor.referee1Lattes	http://lattes.cnpq.br/5339066594960995	pt_BR
dc.contributor.referee2	Marques, Maria de Fátima Vieira	-
dc.contributor.referee2Lattes	http://lattes.cnpq.br/7761580869335305	pt_BR
dc.description.resumo	Tendo em vista o desenvolvimento de novos materiais para aplicação em dispositivos optoeletrônicos, duas amostras contendo filmes poliméricos semicondutores (AMG45 e AMG79) foram estudadas por espectroscopia de fotoelétrons induzidos por raios-X (XPS) e ultravioleta (UPS) e espectroscopia por perda de energia de elétrons em modo de reflexão (REELS). Tal estudo tem como objetivo identificar e avaliar algumas das características da superfície desses filmes, assim como estudar a variação de parte dessas em função da profundidade da amostra. Pelos espectros de XPS foi possível constatar a presença dos filmes poliméricos e obter uma estimativa de suas espessuras: o filme da AMG45 encontra-se espesso (superior a 40 nm), enquanto que o da AMG79 é fino, uma vez que elementos de camadas mais internas da amostra foram detectadas já na análise de sua superfície. Ambas as amostras apresentam contaminação por silício, sendo este possivelmente proveniente de polissiloxanos. E também foi possível identificar que parte das unidades contendo derivados de carbazol da amostra AMG79 apresentam-se protonadas devido a uma reação ácidobase com o poli(estireno (sulfonato)) (PSS), que também compõe a amostra. Por fim, a partir do espectro de valência (XPS) e os espectros de UPS e REELS, os valores em energia dos orbitais ocupados de mais alta energia (HOMOs), função trabalho (Φ) e energia do gap (Eg) foram estimados para cada amostra. O primeiro desses parâmetros também foi avaliado em função da profundidade. Palavras chaves: eletrônica molecular, dispositivos optoeletrônicos, polímeros semicondutores, espectroscopia de fotoelétrons, erosão por íons.	pt_BR
dc.publisher.country	Brasil	pt_BR
dc.publisher.department	Instituto de Química	pt_BR
dc.publisher.initials	UFRJ	pt_BR
dc.subject.cnpq	CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::QUIMICA::FISICO-QUIMICA	pt_BR
dc.embargo.terms	aberto	pt_BR
Appears in Collections:	Química

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