Estudo espectroscópico de polímeros semicondutores para aplicação em eletrônica molecular

Correa, Roger de Souza

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11422/5765

Type:	Trabalho de conclusão de graduação
Title:	Estudo espectroscópico de polímeros semicondutores para aplicação em eletrônica molecular
Author(s)/Inventor(s):	Correa, Roger de Souza
Advisor:	Pereira, Maria Luiza Rocco Duarte
Abstract:	Tendo em vista o desenvolvimento de novos materiais para aplicação em dispositivos optoeletrônicos, duas amostras contendo filmes poliméricos semicondutores (AMG45 e AMG79) foram estudadas por espectroscopia de fotoelétrons induzidos por raios-X (XPS) e ultravioleta (UPS) e espectroscopia por perda de energia de elétrons em modo de reflexão (REELS). Tal estudo tem como objetivo identificar e avaliar algumas das características da superfície desses filmes, assim como estudar a variação de parte dessas em função da profundidade da amostra. Pelos espectros de XPS foi possível constatar a presença dos filmes poliméricos e obter uma estimativa de suas espessuras: o filme da AMG45 encontra-se espesso (superior a 40 nm), enquanto que o da AMG79 é fino, uma vez que elementos de camadas mais internas da amostra foram detectadas já na análise de sua superfície. Ambas as amostras apresentam contaminação por silício, sendo este possivelmente proveniente de polissiloxanos. E também foi possível identificar que parte das unidades contendo derivados de carbazol da amostra AMG79 apresentam-se protonadas devido a uma reação ácidobase com o poli(estireno (sulfonato)) (PSS), que também compõe a amostra. Por fim, a partir do espectro de valência (XPS) e os espectros de UPS e REELS, os valores em energia dos orbitais ocupados de mais alta energia (HOMOs), função trabalho (Φ) e energia do gap (Eg) foram estimados para cada amostra. O primeiro desses parâmetros também foi avaliado em função da profundidade. Palavras chaves: eletrônica molecular, dispositivos optoeletrônicos, polímeros semicondutores, espectroscopia de fotoelétrons, erosão por íons.
Keywords:	Polímeros semicondutores Espectroscopia Eletrônica molecular
Subject CNPq:	CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::QUIMICA::FISICO-QUIMICA
Production unit:	Instituto de Química
Publisher:	Universidade Federal do Rio de Janeiro
Issue Date:	11-Aug-2017
Publisher country:	Brasil
Language:	por
Right access:	Acesso Aberto
Appears in Collections:	Química

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