Bases mínimas para o diagnóstico de falhas em sistemas a eventos discretos

Lima, Saulo Telles de Souza

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11422/7121

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DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	Basilio, João Carlos dos Santos	-
dc.contributor.author	Lima, Saulo Telles de Souza	-
dc.date.accessioned	2019-04-05T17:16:38Z	-
dc.date.available	2023-12-21T03:04:52Z	-
dc.date.issued	2008-12	-
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11422/7121	-
dc.language	por	pt_BR
dc.publisher	Universidade Federal do Rio de Janeiro	pt_BR
dc.rights	Acesso Aberto	pt_BR
dc.subject	Sistemas discretos	pt_BR
dc.subject	Falhas computacionais	pt_BR
dc.subject	Diagnóstico	pt_BR
dc.title	Bases mínimas para o diagnóstico de falhas em sistemas a eventos discretos	pt_BR
dc.type	Trabalho de conclusão de graduação	pt_BR
dc.contributor.referee1	Moreira, Marcos Vicente de Brito	-
dc.contributor.referee2	Cunha, Antônio Eduardo Carrilho de	-
dc.description.resumo	A grande maioria dos processos industriais existentes hoje em dia são automatizados. Este fato faz com que a automação industrial ganhe cada vez mais importância, e conseqüentemente, ferramentas matemáticas para a sua modelagem, análise e controle se tornam instrumentos de grande valia para os engenheiros projetistas destes sistemas. Uma maneira de se abordar esses problemas é através da utilização dos chamados modelos a eventos discretos. Porém, como todo processo real, os sistemas fabris não são imunes a falhas não-observáveis (falha cuja ocorrência não possui sensor capaz de detectá-la). A teoria de Sistemas a Eventos Discretos (SED) se apresenta como uma opção para a solução deste problema, uma vez que permite informar a ocorrência de uma falha não-observável a partir da verificação de ocorrências de eventos observáveis do sistema. Em sistemas de grande porte, o número de eventos possíveis de serem observados (e que, por isso, serão modelados como eventos observáveis) é considerável, e além disso, a tecnologia utilizada na fabricação destes sensores pode ser muito cara. Portanto, é desejável a redução do número de sensores para a observação de eventos, permitindo ainda que a falha possa ser detectada. Neste trabalho será apresentado um método sistemático para se encontrar os menores conjuntos de eventos observáveis que permitem que uma falha em um SED seja detectada.	pt_BR
dc.publisher.country	Brasil	pt_BR
dc.publisher.department	Escola Politécnica	pt_BR
dc.publisher.initials	UFRJ	pt_BR
dc.subject.cnpq	CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA::MEDIDAS ELETRICAS, MAGNETICAS E ELETRONICAS INSTRUMENTACAO	pt_BR
dc.embargo.terms	aberto	pt_BR
Appears in Collections:	Engenharia Elétrica

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monopoli10000557.pdf	Apresentação	679.68 kB	Adobe PDF	View/Open

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