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http://hdl.handle.net/11422/7121
Tipo: | Trabalho de conclusão de graduação |
Título: | Bases mínimas para o diagnóstico de falhas em sistemas a eventos discretos |
Autor(es)/Inventor(es): | Lima, Saulo Telles de Souza |
Orientador: | Basilio, João Carlos dos Santos |
Resumo: | A grande maioria dos processos industriais existentes hoje em dia são automatizados. Este fato faz com que a automação industrial ganhe cada vez mais importância, e conseqüentemente, ferramentas matemáticas para a sua modelagem, análise e controle se tornam instrumentos de grande valia para os engenheiros projetistas destes sistemas. Uma maneira de se abordar esses problemas é através da utilização dos chamados modelos a eventos discretos. Porém, como todo processo real, os sistemas fabris não são imunes a falhas não-observáveis (falha cuja ocorrência não possui sensor capaz de detectá-la). A teoria de Sistemas a Eventos Discretos (SED) se apresenta como uma opção para a solução deste problema, uma vez que permite informar a ocorrência de uma falha não-observável a partir da verificação de ocorrências de eventos observáveis do sistema. Em sistemas de grande porte, o número de eventos possíveis de serem observados (e que, por isso, serão modelados como eventos observáveis) é considerável, e além disso, a tecnologia utilizada na fabricação destes sensores pode ser muito cara. Portanto, é desejável a redução do número de sensores para a observação de eventos, permitindo ainda que a falha possa ser detectada. Neste trabalho será apresentado um método sistemático para se encontrar os menores conjuntos de eventos observáveis que permitem que uma falha em um SED seja detectada. |
Palavras-chave: | Sistemas discretos Falhas computacionais Diagnóstico |
Assunto CNPq: | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA::MEDIDAS ELETRICAS, MAGNETICAS E ELETRONICAS INSTRUMENTACAO |
Unidade produtora: | Escola Politécnica |
Editora: | Universidade Federal do Rio de Janeiro |
Data de publicação: | Dez-2008 |
País de publicação: | Brasil |
Idioma da publicação: | por |
Tipo de acesso: | Acesso Aberto |
Aparece nas coleções: | Engenharia Elétrica |
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