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dc.contributor.advisorPetraglia, Antonio-
dc.contributor.authorCampos, Gustavo dos Santos de-
dc.date.accessioned2019-05-03T14:10:39Z-
dc.date.available2019-05-05T03:00:19Z-
dc.date.issued2010-08-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11422/7727-
dc.languageporpt_BR
dc.publisherUniversidade Federal do Rio de Janeiropt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.subjectCircuitos integradospt_BR
dc.titleEstimação de razões de capacitâncias usando filtros estruturalmente passa-tudo a capacitores chaveadospt_BR
dc.typeTrabalho de conclusão de graduaçãopt_BR
dc.contributor.advisorCo1Soares, Carlos Fernando Teodósio-
dc.contributor.referee1Gomes, Jose Gabriel Rodriguez Carneiro-
dc.contributor.referee2Baruqui, Fernando A. P.-
dc.description.resumoUma importante classe de circuitos eletrônicos realizados em circuitos integrados (CIs) para desempenhar funções fundamentais em instrumentação - filtros, conversores analógico-digital e digital-analógico – requer razões de capacitâncias com elevada precisão. Tipicamente, os erros devem ser menores que 1%. Portanto, além da investigação de métodos para minimizar tais erros, há também interesse em disponibilizar um método de verificação da precisão obtida após a fabricação do CI. Neste trabalho, um procedimento preciso de medida de razões de capacitâncias está sendo desenvolvido, com a utilização de filtros a capacitores chaveados estruturalmente passa-tudo de segunda ordem. A técnica é baseada no fato de que a resposta em freqüência da soma de dois desses filtros produz zeros de transmissão em freqüências pré-determinadas, que dependem diretamente da razão entre duas capacitâncias [2], [3]. O projeto consistirá, primeiramente, na análise teórica da estrutura de medidas e, posteriormente, no projeto dos componentes do filtro – chaves analógicas e amplificadores. No desenvolvimento das chaves analógicas serão considerados efeitos típicos como a injeção de carga e o clock feedthrough. Já nos amplificadores, o projeto levará em consideração o tempo de estabilização e a carga total vista pelo amplificador. O projeto seguirá com o teste individual dos componentes e com o teste da estrutura de medidas. Após a comparação entre os valores simulados e teóricos, serão desenvolvidos os Layouts para a fabricação do circuito integrado. A partir das diferenças entre as freqüências esperadas e medidas no CI, serão obtidos os erros de realização das razões. A principal vantagem desta técnica está relacionada com a propriedade dos filtros estruturalmente passa-tudo produzirem zeros bem definidos mesmo na ocorrência de variações no processo de fabricação.pt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.departmentEscola Politécnicapt_BR
dc.publisher.initialsUFRJpt_BR
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIASpt_BR
dc.embargo.termsabertopt_BR
Appears in Collections:Engenharia Eletrônica e de Computação

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