Pantheon Repositório Institucional da UFRJ
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http://hdl.handle.net/11422/8149| Tipo: | Trabalho de conclusão de graduação |
| Título: | Bases mínimas para o diagnóstico de falhas em sistemas a eventos discretos |
| Autor(es)/Inventor(es): | Lima, Saulo Telles de Souza |
| Orientador: | Basílio, João Carlos dos Santos |
| Resumo: | A grande maioria dos processos industriais existentes hoje em dia são automatiza-dos. Este fato faz com que a automação industrial ganhe cada vez mais importância,e conseqüentemente, ferramentas matemáticas para a sua modelagem, análise e controle se tornam instrumentos de grande valia para os engenheiros projetistas destes sistemas.Uma maneira de se abordar esses problemas é através da utilização dos chamados modelos a eventos discretos. Porém, como todo processo real, os sistemas fabris não são imunes a falhas não-observáveis (falha cuja ocorrência não possui sensor capaz de detectá-la). A teoria de Sistemas a Eventos Discretos (SED) se apresenta como uma opção para a solução deste problema, uma vez que permite informar a ocorrência de uma falha não-observável a partir da verificação de ocorrências de eventos observáveis do sistema. Em sistemas degrande porte, o número de eventos possíveis de serem observados (e que, por isso, serão modelados como eventos observáveis) é considerável, e além disso, a tecnologia utilizada na fabricação destes sensores pode ser muito cara. Portanto, é desejável a redução do número de sensores para a observação de eventos, permitindo ainda que a falha possa ser detectada. Neste trabalho será apresentado um método sistemático para se encontrar os menores conjuntos de eventos observáveis que permitem que uma falha em um SED seja detectada. |
| Palavras-chave: | Processos industriais Automação industrial |
| Assunto CNPq: | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA |
| Unidade produtora: | Escola Politécnica |
| Editora: | Universidade Federal do Rio de Janeiro |
| Data de publicação: | Dez-2008 |
| País de publicação: | Brasil |
| Idioma da publicação: | por |
| Tipo de acesso: | Acesso Aberto |
| Aparece nas coleções: | Engenharia Elétrica |
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| Arquivo | Descrição | Tamanho | Formato | |
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