Filmes finos de TiC/Al Produzidos por Magnetron Sputtering para aplicação em coletores solares

Alencastro, Felipe Sampaio

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DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	Simão, Renata Antoun	-
dc.contributor.author	Alencastro, Felipe Sampaio	-
dc.date.accessioned	2019-07-30T14:19:27Z	-
dc.date.available	2023-12-21T03:01:27Z	-
dc.date.issued	2012-02	-
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11422/8916	-
dc.language	por	pt_BR
dc.publisher	Universidade Federal do Rio de Janeiro	pt_BR
dc.rights	Acesso Aberto	pt_BR
dc.subject	Superfícies refletivas	pt_BR
dc.subject	Magnetron Sputtering	pt_BR
dc.subject	Filmes finos duros	pt_BR
dc.title	Filmes finos de TiC/Al Produzidos por Magnetron Sputtering para aplicação em coletores solares	pt_BR
dc.type	Trabalho de conclusão de graduação	pt_BR
dc.contributor.referee1	Achete, Carlos Alberto	-
dc.contributor.referee2	Camargo Junior, Sérgio Alvaro de Souza	-
dc.contributor.referee3	Santos Junior, Emanuel	-
dc.description.resumo	Este trabalho trata da deposição de filmes finos refletivos de alta dureza para aplicação em coletores solares. Os filmes foram produzidos por magnetron sputtering, utilizando alvos de alumínio e carbeto de titânio, onde ambos os componentes são depositados concomitantemente sobre os substratos. A deposição simultânea foi realizada através da rotação do suporte de substratos, que os imergia alternadamente nos plasmas dos diferentes alvos; a velocidade de rotação foi ajustada de forma a garantir que uma quantidade de material inferior a uma camada atômica fosse depositada a cada ciclo, possibilitando uma deposição homogênea dos componentes ao longo da espessura do filme. Os filmes depositados foram analisados via microscopia eletrônica de varredura, espectroscopia de energia dispersiva de Raios X, microscopia eletrônica de transmissão, microscopia de força atômica, perfilometria de contato, nanodureza Berkovich, difração de Raios X rasantes e espectrometria na região do infravermelho e do ultravioleta/visível. Os resultados das análises apontam tendências inversas entre a reflectividade e a nanodureza de acordo com a variação da proporção Al/TiC, e sugerem que a combinação destes componentes apresenta propriedades satisfatórias à produção de superfícies refletivas solares.	pt_BR
dc.publisher.country	Brasil	pt_BR
dc.publisher.department	Escola Politécnica	pt_BR
dc.publisher.initials	UFRJ	pt_BR
dc.subject.cnpq	CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA	pt_BR
dc.embargo.terms	aberto	pt_BR
Appears in Collections:	Engenharia de Materiais

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