Estimação de razões de capacitâncias usando filtros estruturalmente passa-tudo a capacitores chaveados

Campos, Gustavo dos Santos de

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11422/7727

Type:	Trabalho de conclusão de graduação
Title:	Estimação de razões de capacitâncias usando filtros estruturalmente passa-tudo a capacitores chaveados
Author(s)/Inventor(s):	Campos, Gustavo dos Santos de
Advisor:	Petraglia, Antonio
Co-advisor:	Soares, Carlos Fernando Teodósio
Abstract:	Uma importante classe de circuitos eletrônicos realizados em circuitos integrados (CIs) para desempenhar funções fundamentais em instrumentação - filtros, conversores analógico-digital e digital-analógico – requer razões de capacitâncias com elevada precisão. Tipicamente, os erros devem ser menores que 1%. Portanto, além da investigação de métodos para minimizar tais erros, há também interesse em disponibilizar um método de verificação da precisão obtida após a fabricação do CI. Neste trabalho, um procedimento preciso de medida de razões de capacitâncias está sendo desenvolvido, com a utilização de filtros a capacitores chaveados estruturalmente passa-tudo de segunda ordem. A técnica é baseada no fato de que a resposta em freqüência da soma de dois desses filtros produz zeros de transmissão em freqüências pré-determinadas, que dependem diretamente da razão entre duas capacitâncias [2], [3]. O projeto consistirá, primeiramente, na análise teórica da estrutura de medidas e, posteriormente, no projeto dos componentes do filtro – chaves analógicas e amplificadores. No desenvolvimento das chaves analógicas serão considerados efeitos típicos como a injeção de carga e o clock feedthrough. Já nos amplificadores, o projeto levará em consideração o tempo de estabilização e a carga total vista pelo amplificador. O projeto seguirá com o teste individual dos componentes e com o teste da estrutura de medidas. Após a comparação entre os valores simulados e teóricos, serão desenvolvidos os Layouts para a fabricação do circuito integrado. A partir das diferenças entre as freqüências esperadas e medidas no CI, serão obtidos os erros de realização das razões. A principal vantagem desta técnica está relacionada com a propriedade dos filtros estruturalmente passa-tudo produzirem zeros bem definidos mesmo na ocorrência de variações no processo de fabricação.
Keywords:	Microeletrônica Circuitos integrados
Subject CNPq:	CNPQ::ENGENHARIAS
Production unit:	Escola Politécnica
Publisher:	Universidade Federal do Rio de Janeiro
Issue Date:	Aug-2010
Publisher country:	Brasil
Language:	por
Right access:	Acesso Aberto
Appears in Collections:	Engenharia Eletrônica e de Computação

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