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http://hdl.handle.net/11422/7577| Especie: | Trabalho de conclusão de graduação |
| Título : | Analisador de amplitude e fase |
| Autor(es)/Inventor(es): | Tassara, Bruno Portella |
| Tutor: | Cidade , Geraldo Antônio Guerrera |
| Tutor : | Almeida, Heraldo Luis SIlveira de |
| Resumen: | A motivação deste trabalho veia da necessidade de avaliar o desempenho global (eletrônico e mecânico) de um Microscópio de Força Atômica (AFM) de alta velocidade de varredura, que vem sendo desenvolvido em uma parceria entre a UFRJ e o Inmetro. Este projeto tem como proposta o desenvolvimento e a montagem de um equipamento capaz de realizar medidas da resposta em frequência de um circuito eletrônico qualquer, apresentando os resultados na forma de Diagramas de Bode de amplitude e fase. Este tipo de avaliação permite a identificação dos modos de ressonância bem como uma caracterização do circuito quanto à estabilidade. O protótipo, ora designado Analisador de Amplitude e Fase (AAF), conta com o auxilio de citrcuito eletrônico para a medição de fase e por um multímetro digital de precisão para a obtenção da curva de amplitude e utiliza um aplicativo desenvolvido em LabVIEW (National Instruments Inc. [a]) para o controle e exibição dos diagramas. Desta forma o protótipo desenvolvido nesteprojeto é capaz de oferecer uma metodologia de baixo custo abrangendo uma faixa de 20Hz até 100KHz. |
| Materia: | Resposta em frequência Circuito de medição de fase LabVIEW Network Analyzer |
| Materia CNPq: | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA |
| Unidade de producción: | Escola Politécnica |
| Editor: | Universidade Federal do Rio de Janeiro |
| Fecha de publicación: | mar-2009 |
| País de edición : | Brasil |
| Idioma de publicación: | por |
| Tipo de acceso : | Acesso Aberto |
| Aparece en las colecciones: | Engenharia Eletrônica e de Computação |
Ficheros en este ítem:
| Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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