Pantheon Repositório Institucional da UFRJ
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http://hdl.handle.net/11422/7577| Tipo: | Trabalho de conclusão de graduação |
| Título: | Analisador de amplitude e fase |
| Autor(es)/Inventor(es): | Tassara, Bruno Portella |
| Orientador: | Cidade , Geraldo Antônio Guerrera |
| Coorientador: | Almeida, Heraldo Luis SIlveira de |
| Resumo: | A motivação deste trabalho veia da necessidade de avaliar o desempenho global (eletrônico e mecânico) de um Microscópio de Força Atômica (AFM) de alta velocidade de varredura, que vem sendo desenvolvido em uma parceria entre a UFRJ e o Inmetro. Este projeto tem como proposta o desenvolvimento e a montagem de um equipamento capaz de realizar medidas da resposta em frequência de um circuito eletrônico qualquer, apresentando os resultados na forma de Diagramas de Bode de amplitude e fase. Este tipo de avaliação permite a identificação dos modos de ressonância bem como uma caracterização do circuito quanto à estabilidade. O protótipo, ora designado Analisador de Amplitude e Fase (AAF), conta com o auxilio de citrcuito eletrônico para a medição de fase e por um multímetro digital de precisão para a obtenção da curva de amplitude e utiliza um aplicativo desenvolvido em LabVIEW (National Instruments Inc. [a]) para o controle e exibição dos diagramas. Desta forma o protótipo desenvolvido nesteprojeto é capaz de oferecer uma metodologia de baixo custo abrangendo uma faixa de 20Hz até 100KHz. |
| Palavras-chave: | Resposta em frequência Circuito de medição de fase LabVIEW Network Analyzer |
| Assunto CNPq: | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA |
| Unidade produtora: | Escola Politécnica |
| Editora: | Universidade Federal do Rio de Janeiro |
| Data de publicação: | Mar-2009 |
| País de publicação: | Brasil |
| Idioma da publicação: | por |
| Tipo de acesso: | Acesso Aberto |
| Aparece nas coleções: | Engenharia Eletrônica e de Computação |
Arquivos associados a este item:
| Arquivo | Descrição | Tamanho | Formato | |
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| monopoli10002349.pdf | 6.89 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
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