Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/11422/7836
Especie: Trabalho de conclusão de graduação
Título : Sistema integrado para gestão de envelhecimento acelerado em baterias
Autor(es)/Inventor(es): Tavares, Renato Luiz Alves
Tutor: Werneck, Marcelo Martins
Tutor : Carvalho, Cesar Cosenza de
Resumen: O projeto em questão foi realizado no Laboratório de Instrumentação e Fotônica do Programa de Pós-Graduação e Pesquisa de Engenharia (LIF – COPPE/UFRJ), e teve como objetivo o desenvolvimento de um sistema integrado e automatizado de gestão de ensaios de envelhecimento acelerado em baterias chumbo-ácidas estacionárias ventiladas. Uma primeira etapa consistiu em definir sequências de ensaios de envelhecimento, com base em diversas normas nacionais e internacionais, capazes de promover a degradação do banco de baterias disponível de forma acelerada, reduzindo a vida útil nominal de 12 anos para cerca de 180 dias. Em seguida o trabalho descreve as soluções desenvolvidas, em hardware e software, para suprir a necessidade de acompanhar a performance de um equipamento desenvolvido noLIF (WebAcc), cuja função é monitorar o estado de acumuladores via medidas de condutância, sendo assim uma alternativa não invasiva e de baixo custo para tal monitoramento. A aferição de desempenho do WebAcc (em comparação a um equipamento similar importado - Megger) deve ocorrer ao longo de toda a vida útil do banco disponível, sob as condições controladas definidas para os ensaios; desta forma, espera-se que o sistema desenvolvido controle as condições de máximo envelhecimento do banco (alta temperatura e baixa umidade relativa do ambiente), com a gestão de dados provenientes de diversos sensores e equipamentos envolvidos no ensaio, e realize as etapas dos ensaios de forma ordenada e cíclica dentro do planejamento efetuado.
Materia: Baterias chumbo-ácidas estacionárias ventiladas
Ensaios de envelhecimento acelerado
Materia CNPq: CNPQ::ENGENHARIAS
Unidade de producción: Escola Politécnica
Editor: Universidade Federal do Rio de Janeiro
Fecha de publicación: feb-2011
País de edición : Brasil
Idioma de publicación: por
Tipo de acceso : Acesso Aberto
Aparece en las colecciones: Engenharia Eletrônica e de Computação

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