Use este identificador para citar ou linkar para este item: http://hdl.handle.net/11422/1612
Tipo: Patente
Título: Teste de circuitos a capacitores chaveados usando seções passa-tudo
Depositante/Titular: Universidade Federal do Rio de Janeiro
Autor(es)/Inventor(es): Petraglia, Antônio
Petraglia, Mariane Rembold
Canive, Jorge Morales
Resumo: A presente inovação consiste de uma metodologia de teste de circuitos a capacitores chaveados implementados por conexão paralela de seções com funções de transferência recursivas do tipo passa-tudo, que por sua vez são realizadas por seções passa-tudo de primeira e segunda ordens conectadas em série. O teste é completamente alcançado pela medição das respostas de filtros do tipo notch de segunda ordem e filtros passa-baixas ou passa-altas de primeira ordem. Apesar de ser mais simples, e o circuito necessário para a realização do teste ser menor do que os de outros métodos de teste conhecidos, o procedimento de teste é capaz de detectar múltiplas falhas paramétricas e estimar com precisão o valor realmente fabricado em circuito integrado das razões de capacitâncias que determinam os coeficientes da função de transferência do circuito.
Palavras-chave: Circuitos elétricos
Capacitores
Assunto CNPq: CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
Departamento: Instituto Alberto Luiz Coimbra de Pós-Graduação e Pesquisa em Engenharia
Data de depósito: 27-Jul-2004
Data de publicação: 14-Mar-2006
País de publicação: Brasil
Idioma da publicação: por
Tipo de acesso: Acesso Aberto
N. Patente: PI 0403071-0 A2
URI: http://hdl.handle.net/11422/1612
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